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LPT-1S薄膜测厚仪
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LPT-1S薄膜测厚仪
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LPT-1S薄膜测厚仪
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简单介绍
LPT-1S薄膜测厚仪
LPT-1S薄膜测厚仪
的详细介绍
技术指标: 测量范围: 0~1mm 分 度 值: 0.001mm; 综合误差: ≤0.005mm 上 测 头: 曲率半径为R15~R50mm 下 测 头: 直径6mm平面 测头负荷: 0.1~0.5N 测量精度: 100um以内<1um、100~250vm<2um、250um<3um 试验条件: 标准试验环境 净 重: 1.5 kg
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