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光学影响测量仪VME-T型加探针/山东测量仪/测量仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 光学影响测量仪VME-T型加探针/山东测量仪/测量仪
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简单介绍

光学影响测量仪VME-T型加探针/山东测量仪/测量仪

光学影响测量仪VME-T型加探针/山东测量仪/测量仪的详细介绍

    产品介绍: VME系列光学影像量测仪采用全新设计;工作台采用大理石桌面,性能更加稳定,Z轴和调光板采用全新的前置设计方便操作,并新配有17寸液晶显示器,采用3DFAMILY Step Zoom镜头,结合软体在固定倍率下无需校正;在软体方面,采用OVM半自动量测软体,功能更加强大,性价比高。 VME-T加探针: 可加装RENISHAW接触式侧头,并配送∮1、∮2探针,搭配TPM三座标测量软体,作立体工作上之斜面、圆、槽沟、柱、球、锥、盲孔等三位量测,以及和要素之间的距离、角度等集合计算,以达到一次性完成整个量测。 仪器特点: 1、花岗石底座与立柱,机构永不变形。 2、Z轴前置传动系统,便利操作。 3、镜头:3DFAMILY-E型Step-Zoom定格卡位镜头,结合软体在固定倍率下无需线性校正。 4、随机附有自行研发的多用途校正片,不但可以进行教学演练,还可以进行精度校正。 5、OVM半自动测软体。
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