光学影响测量仪VME-T型加探针/山东测量仪/测量仪

光学影响测量仪VME-T型加探针/山东测量仪/测量仪

    产品介绍： VME系列光学影像量测仪采用全新设计；工作台采用大理石桌面，性能更加稳定，Z轴和调光板采用全新的前置设计方便操作，并新配有17寸液晶显示器，采用3DFAMILY Step Zoom镜头，结合软体在固定倍率下无需校正；在软体方面，采用OVM半自动量测软体，功能更加强大，性价比高。 VME-T加探针： 可加装RENISHAW接触式侧头，并配送∮1、∮2探针，搭配TPM三座标测量软体，作立体工作上之斜面、圆、槽沟、柱、球、锥、盲孔等三位量测，以及和要素之间的距离、角度等集合计算，以达到一次性完成整个量测。 仪器特点： 1、花岗石底座与立柱，机构永不变形。 2、Z轴前置传动系统，便利操作。 3、镜头：3DFAMILY-E型Step-Zoom定格卡位镜头，结合软体在固定倍率下无需线性校正。 4、随机附有自行研发的多用途校正片，不但可以进行教学演练，还可以进行精度校正。 5、OVM半自动测软体。